キーエンス社の画像処理装置 XG-8700Lを搭載した、マルチ 表面欠陥検査システムです。
安定したパフォーマンスと、トータルシステムとしての完成度で、お客様の問題解決に貢献いたします。
KE-XGM シリーズ
マルチ 表面欠陥検査システム
特長
コンパクトな筐体の中に必要な機能を凝縮した 『KE-XGCシリーズ』 もラインアップしております。
- 高機能・高性能な画像処理ユニットを搭載
- 24時間365日の稼動に耐える強靭なハードウエア
- 高速モノクロラインセンサカメラを搭載
- タッチパネルの採用で、直感的な操作が可能
- 19インチの検査画面表示用ディスプレイを搭載
- 柔軟なカスタマイズ対応が可能
検査対象
- 無地シート全般
- 高機能フィルム全般
- 金属・鋼板・金属箔
- 不織布・紙
- 壁紙シート
- ガラス・ゴム
- SMC など
ハードウェア
画像処理ユニット
- キーエンス社の画像処理装置 XG-8700Lを搭載
- 24時間365日の稼動に耐える強靭なハードウエア
- マルチコアプロセッサ搭載で分散処理を実現
- ラインセンサカメラとエリアセンサカメラの混在使用が可能
- オプションのユニットを追加することで、容易にシステムの拡張が可能
ラインセンサカメラ
- 2K, 4K, 8Kのモノクロラインセンサカメラを
ラインアップ
- 高感度・小型CMOSセンサを採用
- 世界最小クラスのサイズを実現
- カメラ設置時の手間を軽減する独自のインターフェースを採用
レンズ
- 焦点距離が8mm/12mm/16mm/25mm/35mm/50mmなど、多数ご用意
- 視野やワークとの距離に応じて最適なレンズを選定
- 高解像度での撮像を実現するために、低収差のレンズも選定・ご提案
ラインセンサ用照明
- 主に、LEDライン照明を用いた検査をご提案
- 発光面が最長3,000mmまで対応可能
- 検査内容・検査項目・設置条件等に応じて、
最適な照明をご提案
ソフトウェア
タッチパネル
- 多彩な機能をやさしい操作性でシステム提案
- タッチパネルの採用で、直感的な操作が可能
- 設定可能な機能をボタン操作で実行
- リアルタイムの検査状況を表示
検査画面表示
- 欠点検出画像をリアルタイム表示
- 欠点情報をリスト表示
- 欠点の位置情報をマップ上に表示
- 過去の検査データをリスト表示
- 欠点を明・暗・大・中・小別にリスト表示
欠点画像解析ソフト(オプション)
- 欠点画像の任意の位置で、状態を解析して表示
- 波形処理グラフ表示
- 二値化処理表示
- 3D明るさ分布表示
- 欠点サイズ解析
印刷機能
- 検査データを3種類のパターンで印刷することが可能
- マップ印刷
- 画像リスト印刷
- リスト印刷
前処理・フィルター処理
最適な画像を生成する、フィルター処理を多数搭載
KE-XGMシリーズ各部名称
充実した機能を一体型でご提案
システム構成例(参考)
検査内容やご要望に応じて柔軟なシステム構成をご提案
オプション:メンテナンスサポート
マルチ検査システムのKE-XGMシリーズのご利用にあたっては、
検査精度の維持・安定のために、定期的なメンテナンスをお勧めしております。
弊社では年間2回のサポートとして、機器のメンテナンスをはじめ、検査精度の維持のための最適化のサポートを実施いたします。お客様の作業負担の軽減と合わせてご検討ください。
オプション
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ペンマーカ : FPM-2000 |
検査装置からの信号で、瞬時にマーキングを行います。ボールシャッター式マーカーを採用することで、ペン先の乾燥を防止します。 |
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ラベラー : FRA-1000/2000 |
欠陥検査システムツールとして開発されたもので、標識赤ラベルを欠陥部位のシートエッジ部に自動貼付します。ワンタッチで交換できるアダプタもご用意しております。 |
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LEDライン照明 : R-Wide LED100~3500 |
白色発光のLEDライン照明です。発光面長が100mm~3,500mmと豊富なバリエーションをご用意しております。 |
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