製品情報

ディープラーニング機能搭載検査システム

AI外観検査システム
KE-VJM-AI シリーズ

次世代高機能 表面欠陥検査システム『KE-VJM シリーズ』に、ディープラーニング機能を搭載したモデルです。
AIソフトウェア『VisionPro Deep Learning』による学習効果が期待できるAI外観検査システムです。


ディープラーニング機能搭載検査システム

AI外観検査システム
ZD-CFAI シリーズ

次世代マルチ 表面欠陥検査システム『ZD-CF シリーズ』に、ディープラーニング機能を搭載したモデルです。
AIソフトウェア『VisionPro Deep Learning』による学習効果が期待できるAI外観検査システムです。


ディープラーニング機能搭載検査システム

AI外観検査システム
KE-XGXM-AI シリーズ

次世代高機能 表面欠陥検査システム『KE-XGXM シリーズ』に、ディープラーニング機能を搭載したモデルです。
AIソフトウェア『VisionPro Deep Learning』による学習効果が期待できるAI外観検査システムです。


ディープラーニング機能搭載検査システム

次世代高機能 表面欠陥検査システム
KE-VJM シリーズ

PCベース マシンビジョンと、高性能な画像処理ユニットが融合した、次世代高機能 表面欠陥検査システムです。
画像処理ユニットの高度な撮像と前処理・フィルター処理技術により、PCの負荷を軽減して安定した検査を実現します。


次世代マルチ検査システム

次世代マルチ 表面欠陥検査システム
ZD-CF シリーズ

PCベースの拡張性に優れた次世代マルチ 表面欠陥検査システムです。
豊富なバリエーションの中から選択可能なラインセンサカメラと、独自開発の高信頼性画像処理ソフトウェアを組み合わせることで、高精度の欠陥検査を実現します。


マルチ検査システム

マルチ 表面欠陥検査システム
KE-XGM シリーズ

キーエンス社の画像処理装置 XG-8700Lを搭載した、マルチ 表面欠陥検査システムです。
安定したパフォーマンスと、トータルシステムとしての完成度で、お客様の問題解決に貢献いたします。


次世代高機能検査システム

次世代高機能 表面欠陥検査システム
KE-XGXM シリーズ

キーエンス社の画像処理装置 XG-X2800/XG-X2900を搭載した、次世代高機能 表面欠陥検査システムです。
安定した高いパフォーマンスと、トータルシステムとしての完成度で、お客様の問題解決に貢献いたします。


コンパクト検査システム

コンパクト 表面欠陥検査システム
KE-XGC シリーズ

キーエンス社の画像処理装置 XG-8700Lを搭載した、コンパクト 表面欠陥検査システムです。
設置スペースに制限のある環境での導入や、コストパフォーマンスの要求にも対応可能です。


高速・高精度検査システム

高速・高精度 表面欠陥検査システム
NF-IS シリーズ

PCベースの拡張性に優れた高速・高精度 表面欠陥検査システムです。
高速ラインセンサカメラと独自開発の高信頼性画像処理ソフトウェアを組み合わせることで、 高速・高分解能・高精度での検査を実現します。


完全開発検査システム

完全開発検査システム
ZD-HC シリーズ

完全開発ならではの、高いカスタマイズ性が特長の検査システムです。