「フロンティアシステム株式会社」は、1990年の創業以来30年以上にわたって、ラインセンサカメラを用いたシート材の表面欠陥検査装置のシステム開発をおこなってきました。
さまざまな素材の欠陥に幅広く対応できる自動検査システムを構築し、多くのお客様のニーズに応じた検査システムをご提案しております。
画像処理装置搭載 モノクロ無地表面欠陥検査システム
モノクロ無地表面欠陥検査システム
KE-XGXM シリーズ
キーエンス社の画像処理装置 XG-X2800/XG-X2900を搭載した、高機能 モノクロ無地表面欠陥検査システムです。
安定した高いパフォーマンスと、トータルシステムとしての完成度で、お客様の問題解決に貢献いたします。
コンパクト対応 モノクロ無地表面欠陥検査システム
KE-XGC シリーズ
キーエンス社の画像処理装置 XG-X2800を搭載。コンパクト設計を実現したモノクロ無地表面欠陥検査システムです。
設置スペースに制限のある環境での導入や、コストパフォーマンスの要求にも対応可能です。
二次電池 電極シート用外観検査システム
KE-XGSB シリーズ
キーエンス社の画像処理装置 XG-X2800/XG-X2900を搭載した、二次電池 電極シート用の外観検査システムです。
電極シートの表面・裏面の同時検査が可能で、寸法検査や欠点検査に対応した、高機能検査システムです。
PCベース 無地表面欠陥検査システム
モノクロ無地表面欠陥検査システム
ZD-CF シリーズ
PCベースの拡張性に優れた、モノクロ無地表面欠陥検査システムです。
豊富なバリエーションの中から選択可能なラインセンサカメラと、独自開発の高信頼性画像処理ソフトウェアを組み合わせることで、高精度の欠陥検査を実現します。
モノクロ無地表面欠陥検査システム
KE-VJM シリーズ
PCベースマシンビジョンと、高性能な画像処理ユニットが融合した、高機能 モノクロ無地表面欠陥検査システムです。
画像処理ユニットの高度な撮像と前処理・フィルター処理技術により、PCの負荷を軽減して安定した検査を実現します。
高速対応 モノクロ無地表面欠陥検査システム
NF-IS シリーズ
PCベースの拡張性に優れた高速対応 モノクロ無地表面欠陥検査システムです。
高速ラインセンサカメラと独自開発の高信頼性画像処理ソフトウェアを組み合わせることで、
高速・高分解能・高精度での検査を実現します。
カラー対応 無地表面欠陥検査システム
ZD-MVC シリーズ
PCベースの拡張性に優れた、カラー対応 無地表面欠陥検査システムです。
独自開発の画像処理ボードと、高信頼性画像処理ソフトウェア、そして、高速カラーラインセンサカメラを組み合わせることで、高速・高精度のカラー検査を実現します。
ディープラーニング機能を搭載した、AI外観検査システムもご用意しております。詳しくは、こちらをご覧ください。
完全開発対応 欠陥検査システム
インライン2D/3D対応 外観検査システム
KE-XGLJ シリーズ
キーエンス社の高精細インラインプロファイル測定器 LJ-X8000シリーズを搭載した、インライン2D/3D対応の外観検査システムです。
2次元と3次元の測定・検査に対応し、あらゆるワークを高精度で安定した検査を実現します。
インライン・オフライン兼用 移動式無地表面欠陥検査システム
ZD-IDS シリーズ
インライン・オフライン兼用で使用が可能な、移動式の無地表面欠陥検査システムです。
カメラ・照明・画像処理装置などが一体化しているため、容易に移動して設置することが可能です。